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FINETETCH JAPAN包括
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├ Display 2010
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< 同期举办 >
LIGHTING JAPAN
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展览会名称
20th FPD Manufacturing Technology Expo
(FINETECH JAPAN 包括)
日期
2010年4月14日 (星期三) -16日 (星期五) 10:00-18:00 (4月16日为10:00-17:00)
会场
日本东京有明国际展览中心 (Tokyo Big Sight, Japan)
主办单位
Reed Exhibitions Japan Ltd.
同期活动
FINETECH JAPAN 技术研讨会
FINETECH JAPAN
包括
FPD Components & Materials Expo
TOUCH PANEL JAPAN (International Touch Panel Technology Expo)
Display 2010 (International FPD Expo)
同期举办
LIGHTING JAPAN (LED/OLED Lighting Technology Expo)
FilmTech JAPAN (Highly-functional Film Technology Expo)
Nanoimprint Technology Fair
参展费用中包含的服务项目
展览展位(墙面和地毯之类的展览设施费用除外)
免费招待券
VIP贵宾特别邀请服务
在业界知名刊物和杂志上免费宣传展会
在展会官方网站上刊登展商信息
在分发给所有观众的“会场平面图”上登载贵公司名称及展出信息。
*您还可以使用我们准备的其他服务项目,以提高贵公司展出效率。
参展产品
生产设备区
<生产设备区>
清洗系统
对位层涂敷设备
烘干炉
磨擦设备
屏幕印刷机
衬垫喷射系统
控制面板对位
划片器/组件分离器
液晶注入系统
分配器
OLB设备
偏振器吸附系统
研磨设备
清洗设备
定位器/曝光机
涂布机/显影机
光阻剥离系统
干式蚀刻系统清洗设备
湿式蚀刻系统
CVD设备
溅镀装置
阳极氧化设备
离子植入机
激光退火系统等
膜成形/加工区
层合机/涂布机
纵断器
切割器
模切机
挤压机
T印模/膨胀印模/多层印模
铸造设备
延伸机
引上机/卷扬机
乾燥设备
表面处理/硬化设备
涂布模/刀/切割工具
辊碎机
卷芯等
FPD检测技术区
<测试/维修/测量区>
基板检查设备
点灯检查设备
缺陷检查设备
异物检查设备
数组检查设备
CF检查设备
膜检查设备
检验机器
维修设备
微调设备
Probes测试设备
烧机设备
膜压/抵抗测量设备
分光测量器
辉度/色度测定器等
<评估/测试/分析区>
信号发生器
视频发生器
视角特性试验器
老化测试设备
各种评价设备
各种显微镜设备
分光器
光学试验器
强度试验设备
温度湿度试验设备
寿命试验设备等
<测试要素技术区>
CCD相机
光学透镜
检查用光源
图像处理装置
XY台
检查设备用部件等
有机EL区
生产设备
组件/材料
试验/检测设备等
洁净/ESD静电防护区
洁净室系统
洁净空间
风淋室
尘埃离子计数器
过滤器
集尘器
Ionizers
电离剂
ESD/抗静电产品
洁净室相关产品 (防尘服/手套/口罩)
擦拭用品/擦拭布
除尘滚轮等
参展产品
胶粘材料
放大器
阴冷极管
彩色滤光片
连接器
转换器
导线/线材
清洁剂
显影剂/分离剂
显示子系统
显示系统整合设备
驱动/控制设备
软式电路板
气体/化学物
玻璃基材
ITO靶材
键盘
零组件
光学组件
塑料基材
电源供应器
电阻设备
封装设备
程序软件
光学膜区
背光膜
特性增强膜
FPD光学滤光片
胶膜
ITO膜
LCD用相差膜
偏光膜
高分子薄膜
背光膜区
背光组件
扩散板
逆变器
光罩
平面光源子
光学分析/测量/测试设备
光学设计组件
光学仿真/解析软件
光学波导软件
棱镜片
各种组件
联系我们
FINETECH JAPAN 展会事务局
Reed Exhibitions Japan Ltd.
联系人 : 金太国 (Mr.), Hajime SUZUKI (Mr.), Jun-yeup LIM (Mr.)
18F Shinjuku-Nomura Bldg., 1-26-2 Nishishinjuku, Shinjuku-ku, Tokyo 163-0570, Japan
电话 : +81-3-3349-8568 传真 : +81-3-3349-0598
E-mail :
fpd-c@reedexpo.co.jp